IR近红外显微镜MH400

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IR近红外显微镜MH400

来源:子非鱼 发布时间:2023-05-04 11:40

IR近红外显微镜MH400配置12寸载物台,合用于多种尺寸半导体产品检测。IR近红外显微镜MH400和普通显微镜光源不同,它采用的光源是不可见光——红外线,它能穿透1mm以内硅材料,主要用于半导体行业对于芯片隐裂、倒装芯片、MEMS器件等无损检测。

IR近红外显微镜MH400应用案例图片

CSP/SIP的非破坏检查

Vcsel芯片隐裂(cracks)

die chip 失效分析

mark标记检查

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